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新品 HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

核心参数

  • 产地类别 进口
  • 测量时间2min
  • 分辨率
  • 测量范围0.3nm ~ 10μm
  • 重现性+-2%
  • 分散方式 湿法分散
  • 仪器种类 动态光散射

HORIBA 科学仪器事业部 查看联系方式

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质生产商
  • 白金会员第18年
  • 信用积分4251
  • 反馈速度21-24小时
  • 同类仪器3台
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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 创新点 产品介绍 相关资料 相关新闻 用户评论

创新点

SZ-100 V2采用动态光散射测量颗粒粒径,SZ-100V2采用绿色激光光源,能获得比红色激光更强的信号强度。它具有双角度检测器,能满足不同浓度样品的测试需求,PD检测器可检测样品浓度,从而选择最合适的检测器。SZ-100 V2对粒径的测量范围在0.3纳米到10微米。SZ-100 V2 对Zeta电位的测量范围在-500mV到500mV。Zeta电位可判断样品的稳定性,对配方研究工作意义重大。此外可配置pH自动滴定仪,获得样品的等电点。SZ-100V2对分子量的测量范围在1000到2000万之间。仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、碳纳米管、蛋白质等生物样品的测量分析。

上市时间:2018年10月

产品介绍

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。


SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。


产品特点


·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

·  宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%

·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

·  软件操作简单功能强大,一键测量

·  双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

·  采用微量样品池


技术参数


粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)

粒径测定范围:0.3nm ~10μm

粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV

分子量测量原理:Debye plot

分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da

测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

样品量:12μL ~ 1000μL

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HORIBA 科学仪器事业部

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